透反射正置金相显微镜XM4JT

仪器用途：

XM4JT正置金相显微镜是适用于对透明或者不透明物体的显微观察。

本系列产品用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子，冶金、化工和仪器表行业用于观察透明、半透明或不透明的物质，如金属陶瓷、电子陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。

性能特点

▲  无限远色差校正光学系统
▲ 配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片)，视场大而清晰。        
▲ 粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带锁紧和限位装置，微动格值:2μm。
▲ 配置落射与透射两套照明系统，能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察。 
▲ LED灯，亮度可调。 
▲ 三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察，可进行100%透光摄影。

主要技术参数：

1、光学系统：无限远色差校正光学系统

2、目镜观察筒：倾斜30度，无限远铰链三目镜5:5分光观察头，瞳距视度调节±5屈光度

3、目镜：高眼点大视野 WF10X(20mm)  

4、物镜：

无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)  5X/0.15，WD12mm

无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) 10X/0.25，WD16mm

无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) 20X/0.40，WD12mm

无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) 50X/0.55，WD9.15 

5、总放大倍数：50X-500X

6、物镜转换器：四孔定位转换器

7、粗微调焦机构：配置透反射玻璃载物台板，低手位粗微同轴调焦机构，粗调行程23mm，

微调精度0.002mm，带有防止载物台下滑的松紧调节装置。

8、载物台： 双层机械移动式，低手位X、Y方向同轴调节，尺寸：190×150mm，移动范围76×50mm

7、落射照明系统：单颗大功率5W LED，反射灯室，暖白色，柯拉照明，带视场光阑和孔径光阑，光阑中心大小可调，外置式宽电压适配器，输入100V-240V-AC50/60HZ，输出DC12V2A

8、透射照明系统：单颗大功率3W白光LED灯

9、聚焦镜：透射用阿贝聚焦镜，数值孔径N.A1.25,带可变光栏，中心预调

10、随机配起偏镜和检偏镜，检偏镜360°旋转可调

11、接口：1倍

12、成像系统：1200万像素彩色数字成像系统，芯片型号:Sony芯片类型:CMOS，芯片尺寸:1/2.33英寸，分辨率：1200万 4000(H)x3000(V)，像素尺寸:1.34μmx1.34μm，相机帧率:15帧。

13、成像系统配套软件：图像采集、测量、比例尺、平场校正、暗场/荧光模式、ROI和遮罩功能、自动计数、报告导出及图像优化处理功能。专业的几何测量功能，软件可测量产品的长度、面积、周长、直径、弧度、角度等几何尺寸.高效图像采集-编辑-测量-报告输出。

选购件：

1、目镜：WF16X/11mm,WF20X/9mm，10X带尺可调目镜

2、物镜：无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) 100X（干镜）/0.8,WD2.1(选配件） 

3、摄像系统：1200万或者2000万工业CCD,数码相机

4、颗粒分析软件，测量软件，金相分析软件等

5、接口：0.5倍